- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 21/95 - Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures caractérisée par le matériau ou la forme de l'objet à analyser
Détention brevets de la classe G01N 21/95
Brevets de cette classe: 3537
Historique des publications depuis 10 ans
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388
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357
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310
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114
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| 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| KLA-Tencor Corporation | 2574 |
413 |
| KLA Corporation | 1223 |
243 |
| ASML Netherlands B.V. | 6816 |
155 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 4424 |
128 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
99 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 36809 |
77 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 549 |
58 |
| Tokyo Electron Limited | 11599 |
46 |
| Applied Materials, Inc. | 16587 |
39 |
| Nova Ltd. | 145 |
38 |
| The Boeing Company | 19843 |
30 |
| Onto Innovation Inc. | 340 |
30 |
| Unity Semiconductor | 50 |
29 |
| Screen Holdings Co., Ltd. | 2431 |
23 |
| Camtek Ltd. | 103 |
22 |
| NuFlare Technology, Inc. | 770 |
22 |
| Seagate Technology LLC | 4228 |
20 |
| Commissariat à l'énergie atomique et aux energies alternatives | 10525 |
20 |
| Samsung Display Co., Ltd. | 30585 |
19 |
| Sumco Corporation | 1116 |
19 |
| Autres propriétaires | 2007 |